[10p-N402-1~10] CS.1 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[10p-N402-7] 超小型AMS装置に向けて発案した表面ストリッパーの解離能力の検討 III

〇松原 章浩¹、藤田 奈津子¹、木村 健二¹ (1.原子力機構東濃)

キーワード：加速器質量分析、表面ストリッパー、分子解離

炭素-14専用超小型AMS装置の主要技術である表面ストリッパーの実用性を数値的に評価した．一連の検討では, 数十keV の¹³CH が数度の入射角で単結晶表面に入射し, 表面電子との衝突により解離するというモデルを用いている. 今回は¹³CH の分子軸の方向がランダムに分布しているものと想定し,¹³C とH の個々に作用する表面ポテンシャル力の和より¹³CH 分子の重心の鏡面反射軌道を求め, これを残存率の計算に用いた. この結果, 得られた¹³CH の残存率は,実用上必要な10⁻¹² を十分下回ることが分かった.