[11a-N106-1~10] 3.8 Optical measurement, instrumentation, and sensor

△ [11a-N106-10] Electric field profile measurement along probing laser path based on electric field-induced second-harmonic generation

〇(D)Shin Nakamura¹, Masahiro Sato¹, Takashi Fujii¹, Akiko Kumada¹, Yuji Oishi² (1.The Univ. of Tokyo, 2.CRIEPI)

Keywords:femtosecond laser, electric field, second harmonic

電界を非接触、非侵襲に測定する手段として、電界誘起第二高調波発生 (E-FISHG) を用いた手法が脚光を浴びている。電界が印加された媒質中にレーザ光を照射すると、二次高調波が発生する (SHG) 。SHG強度を測定することで、電界を測定できる。本研究では、平行棒電極を用いた電界校正手法と、焦点位置を変えることで取得したSHG強度分布からレーザ光路方向の電界分布を復元する手法を提案する。