[11a-N401-6~8] 7.4 量子ビーム界面構造計測

[11a-N401-6] [講演奨励賞受賞記念講演] X線自由電子レーザーを用いたBiコヒーレントフォノン発生機構の解明

〇久保田 雄也¹、田中 良和¹、富樫 格^2,1、戎 富雄¹、玉作 賢治¹、大沢 仁志²、和田 哲弥³、杉野 修³、松田 巌³、矢橋 牧名^1,2 (1.理研、2.JASRI、3.東大物性研)

キーワード：コヒーレントフォノン、X線自由電子レーザー、低温超高速X線回折

コヒーレントフォノンは超短パルスレーザーによって励起された、準安定的な格子運動であり、これまで多くの研究報告がある。しかし、その発生起源については未だ議論が続いており、極低温も含めた広い温度領域において、格子の振る舞いを直接明らかにすることが求められていた。本研究では、これまで困難であった低温時間分解X線回折測定が可能な装置を開発し、代表的な物質であるBiの格子変位を直接観測することに成功した。