The 82nd JSAP Autumn Meeting 2021

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.2 Exploratory Materials, Physical Properties, Devices

[11p-N304-1~13] 13.2 Exploratory Materials, Physical Properties, Devices

Sat. Sep 11, 2021 1:30 PM - 5:00 PM N304 (Oral)

Takashi Suemasu(Univ. of Tsukuba), Yoshikazu Terai(Kyushu Inst. of Tech.)

1:30 PM - 1:45 PM

[11p-N304-1] Analysis of electrical characteristics of Mg2Si Schottky diodes

Makoto Chiba1, Haruhiko Udono1 (1.Ibaraki Univ.)

Keywords:silicide semiconductor

我々は、Mg2Siを用いた民生用の安価な短波長赤外線センサの開発を行なっている。過去にMg2Siバルク結晶の劈開面へのショットキー接合の作製及び、J-V特性評価によって、Mg2Siの電子親和力4.51[eV]が見積もられている。今回、Mg2SiショットキーダイオードのJ-V特性と、C-V特性の評価によってMg2Siの電子親和力の評価、及びそれぞれの特性から得られた値の比較を行なった。