2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[11p-N304-1~13] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2021年9月11日(土) 13:30 〜 17:00 N304 (口頭)

末益 崇(筑波大)、寺井 慶和(九工大)

13:30 〜 13:45

[11p-N304-1] Mg2Siショットキーダイオードの電気特性の解析

千葉 諒1、鵜殿 治彦1 (1.茨城大院)

キーワード:シリサイド半導体

我々は、Mg2Siを用いた民生用の安価な短波長赤外線センサの開発を行なっている。過去にMg2Siバルク結晶の劈開面へのショットキー接合の作製及び、J-V特性評価によって、Mg2Siの電子親和力4.51[eV]が見積もられている。今回、Mg2SiショットキーダイオードのJ-V特性と、C-V特性の評価によってMg2Siの電子親和力の評価、及びそれぞれの特性から得られた値の比較を行なった。