[11p-N323-1~13] 12.2 評価・基礎物性

[11p-N323-4] 電流計測AFMで明らかにするn型ポリマー半導体薄膜の局所電荷輸送

〇川西 俊輝¹、Anjar Taufik Hidayat¹、辨天 宏明¹、太田 昇²、村岡 梓³、Manish Pandey¹、中村 雅一¹ (1.奈良先端大、2.高輝度光科学研究センター、3.日本女子大)

キーワード：電流計測原子間力顕微鏡、ポリマー半導体薄膜、電荷輸送

ポリマー半導体材料の電荷輸送特性は薄膜の微細構造に支配される。これまで、n型ポリマー半導体の薄膜が有する局所的な電子輸送特性を明らかにすることは困難であった。ポリマー半導体の表面は、機械的強度が比較的高く、なめらかかつ自由エネルギーが小さい低摩擦面であるため、原子間力顕微鏡の金属コート探針によって安定した電気的接触が得られるという特徴がある。そこで、本研究では大気中でも安定な電子注入対向電極を作製し、電流計測原子間力顕微鏡（C-AFM）を用いることでn型ポリマー半導体薄膜が有する電子輸送特性をナノスケールで評価した。