[12a-N106-1~9] 22.1 Joint Session M "Phonon Engineering"

△ [12a-N106-9] Direct mapping of local potential variation in thermoelectric material under temperature different

〇(D)Yuki Komatsubara¹, Yuji Miyato², Takafumi Ishibe¹, Yoshiaki Nakamura¹ (1.Osaka Univ., 2.Ryukoku Univ.)

Keywords:Kelvin Force Microscopy, Thermoelectric material

熱電性能向上のため、様々な出力因子増大（S²σ; Sはゼーベック係数、σは電気伝導率）戦略が提案されている。2乗で寄与するSの増大は有効だが、そのS増大機構に関する実験的証拠は少ない。そこで我々は、プローブと試料の真空準位差(V_VAC)測定が可能なケルビンフォース顕微鏡に着眼した。温度勾配下のV_VAC測定により、S値と関係する局所熱起電力情報を取得できる。本講演では、ZnO薄膜の温度勾配下のV_VAC分布測定結果について発表する。