[12a-N106-1~9] 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

△ [12a-N106-9] 温度勾配下の熱電材料における局所電位変化の直接測定

〇(D)小松原 祐樹¹、宮戸 祐治²、石部 貴史¹、中村 芳明¹ (1.阪大基礎工、2.龍谷大学)

キーワード：ケルビンフォース顕微鏡、熱電材料

熱電性能向上のため、様々な出力因子増大（S²σ; Sはゼーベック係数、σは電気伝導率）戦略が提案されている。2乗で寄与するSの増大は有効だが、そのS増大機構に関する実験的証拠は少ない。そこで我々は、プローブと試料の真空準位差(V_VAC)測定が可能なケルビンフォース顕微鏡に着眼した。温度勾配下のV_VAC測定により、S値と関係する局所熱起電力情報を取得できる。本講演では、ZnO薄膜の温度勾配下のV_VAC分布測定結果について発表する。