[12p-N402-1~10] 11.2 Thin and thick superconducting films, coated conductors and film crystal growth

[12p-N402-6] Relationship between heat treatment and resistivity of LaNiO₃ thin film for REBCO-CC buffer layer

〇Shuhei Funaki¹, Mai Higuchi¹, Yasuji Yamada¹, Toshiya Doi² (1.Shimane Univ., 2.Kyoto Univ.)

Keywords:LaNiO3, conductive buffer, REBCO-CC

本研究では，新規低コストREBCO-CCの導電性中間層としてい用いるLaNiO₃薄膜の熱処理と抵抗率の関係を明らかにすることを目的とし，PLD-REBCO成膜環境及び酸素アニール環境におけるLaNiO₃薄膜の抵抗率の変化を調査した．
LaNiO₃薄膜をPLD-REBCO成膜環境で熱処理をすることで，抵抗率が低下することが分かった．また，As-depo. 及びPLD-REBCO成膜環境で熱処理したLaNiO₃薄膜は酸素アニールによって低抵抗率化し，PLD-REBCO成膜環境の熱処理を施すことで到達する抵抗率がさらに低下することが分かった．