2021年第82回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[12p-S301-1~15] 6.2 カーボン系薄膜

2021年9月12日(日) 14:00 〜 18:00 S301 (口頭)

竹内 大輔(産総研)、山口 尚秀(物材機構)

15:45 〜 16:00

[12p-S301-8] 全てイオン注入法でドーピングし作製したダイヤモンドショットキーバリアダイオード

重松 誠弥1、関 裕平2、星野 靖2、中田 穣治2、大石 敏之1、嘉数 誠1 (1.佐賀大院工、2.神奈川大理)

キーワード:イオン注入、ダイヤモンド、ショットキーバリアダイオード

全てイオン注入法でドーピングし作製したダイヤモンドショットキーバリアダイオード(SBD)で整流特性を得た.このSBDは,ショットキー電極下に低濃度ドーピング領域があり,オーミック電極下に高濃度ドーピング領域があった.その結果,電流の整流比は1266であった.ショットキー障壁の高さは1.1 eV,理想係数は10,寄生抵抗は3.5×108 Ωと求められた.