[13a-N206-1~9] 2.4 医用応用

△ [13a-N206-7] 医療用炭素線ビームの二次粒子により発生する電子機器のソフトエラーの実測評価

〇(M2)松本 隆洋¹、小林 和淑¹、酒井 真理² (1.京都工繊大電、2.群馬大医)

キーワード：ソフトエラー、FPGA、重粒子線治療

電子機器を放射線環境下で動作させると、放射性粒子が集積回路中のシリコン原子と衝突することにより電子正孔対が発生し、メモリの保持値が書き変えられるソフトエラーが発生する。癌治療に使用される炭素線ではICDなどの治療機器に発生するソフトエラーが問題となる。本研究では炭素線により発生した二次粒子がFPGAに起こすソフトエラー数を計測し、PHITSで求めたFluxによりソフトエラー率の推定を行った。