[21p-P01-1~31] 2 Ionizing Radiation(Poster)

[21p-P01-28] Temperature dependence of carrier transport characteristics in CdTe semiconductor radiation detectors using laser pulses

〇Yuki Ogawa¹, Hisaya Nakagawa², Hiroki Saito¹, Toru Aoki^1,2, Tetsu Ito^1,2 (1.Shizuoka Univ., 2.RIE,Shizuoka Univ.)

Keywords:CdTe, carrier transport characteristics, temperature dependence

ショットキー型のCdTe放射線検出器にはポーラリゼーションと呼ばれる経時劣化が生じることが確認されている.これは深い準位からの正孔のデトラップによる負の空間電荷の蓄積により,内部電界分布が変化することでキャリア輸送特性に変化が生じる事が原因とされている.我々は深い準位への熱的な影響を考え,キャリア輸送特性を温度的な観点から評価することは重要であると考えた.本研究ではCdTeのキャリア輸送において温度が与える影響を評価するため,放射線に擬似したレーザーパルスを入射し,出力信号の温度変化を測定した.