[21p-P01-1~31] 2 放射線(ポスター)

[21p-P01-28] レーザーパルスを用いたCdTe半導体放射線検出器におけるキャリア輸送特性の温度依存性

〇小川 裕生¹、中川 央也²、齋藤 寛希¹、青木 徹^1,2、伊藤 哲^1,2 (1.静大院、2.静大電研)

キーワード：CdTe、キャリア輸送特性、温度依存性

ショットキー型のCdTe放射線検出器にはポーラリゼーションと呼ばれる経時劣化が生じることが確認されている.これは深い準位からの正孔のデトラップによる負の空間電荷の蓄積により,内部電界分布が変化することでキャリア輸送特性に変化が生じる事が原因とされている.我々は深い準位への熱的な影響を考え,キャリア輸送特性を温度的な観点から評価することは重要であると考えた.本研究ではCdTeのキャリア輸送において温度が与える影響を評価するため,放射線に擬似したレーザーパルスを入射し,出力信号の温度変化を測定した.