10:45 〜 11:00 [17a-Z22-7] 磁場依存性を利用した多画素TES特性の均一性評価 〇(D)今井 悠喜1,3、平山 文紀1、中島 裕貴1、神代 暁1、山森 弘毅1、永吉 賢一郎2、赤松 弘規2、佐藤 浩介3 (1.産総研、2.オランダ宇宙研、3.埼玉大理工)