11:15 〜 11:30 △ [18a-Z15-8] DLTS法によるn型GaN中の深い準位評価に対してショットキー障壁高さが与える影響の定量的解析 〇青島 慶人1、堀田 昌宏1,2、須田 淳1,2 (1.名大院工、2.名大未来研)