革新的技術と自動化ソフトウェアで最も正確で使いやすい原子間力顕微鏡 (AFM)

次世代の半導体であるGaN単結晶やヘロブスカイト結晶など、各種材料評価に必要な測定装置を紹介しています。

フェムト・ピコ・ナノ秒レーザ、SLM、分光器、ハイパースペクトルカメラや薄膜密着強度測定器をご紹介

目視検査から自動検査へ！ウエハ欠陥検査、非接触厚み測定については弊社丸文にお任せください。

マイクロＬＥＤ、ＬＥＤ、レーザ、受光素子等の光半導体の分析装置をはじめとした半導体評価装置を製造販売しております。

光量子計測の最先端へ ～ EUV/X線オプティクス＆検出器　ラドデバイス(株)

キャリア展示出展機関
日時：　2021年3月17日（水）｜ 9:00- 18:00

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