[16a-P01-1~11] 12.2 Characterization and Materials Physics

[16a-P01-1] Numerical analysis on stress relaxation measurements using atomic force microscopye

〇Momoko Nakada¹, Takaharu Okajima¹ (1.Hokkaido Univ.)

Keywords:atomic force microscopy, stress relaxation measurement

原子間力顕微鏡(AFM)ではこれまで単一細胞だけでなく、単層細胞集団や組織切片の力学測定が行われてきた。さらに、未処理の組織に対してのAFMの精密計測が求められているが、それには粘弾性計測の定量解析法の開発が必要である。本研究では、実際のAFM測定で得られる緩和挙動をシミュレートし、2つの解析モデルでの解析精度を調べた。その結果、たわみの時間変化やばね定数などに応じて解析精度が変化していくことが分かった。