[16a-Z08-1~11] 3.8 光計測技術・機器

△ [16a-Z08-10] 透過型光コム分光顕微鏡の開発

〇(M1)大谷 圭史郎¹、南川 丈夫^1,2、中野 祥太¹、長谷 栄治²、安井 武史^1,2 (1.徳島大創成、2.徳島大pLED)

キーワード：光コム、デュアルコム分光

光の強度と位相を同時計測することで，屈折率や厚さなどの光とサンプルのより詳細な相互作用の解析や，光学顕微鏡の高機能化を実現できる．今回は，光コムを光源に用いたレーザー集光による高感度性と光の強度と位相の分光情報の同時取得が可能な透過配置の光コム顕微鏡を開発した．その結果，振幅画像ではサンプルの透過率特性を，位相画像では位相変調特性を同時計測が可能であることが明らかになった．