2021年第68回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

[16a-Z16-1~11] 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2021年3月16日(火) 09:00 〜 12:00 Z16 (Z16)

牧山 剛三(住友電工)

09:30 〜 09:45

[16a-Z16-3] n 型 AlN のショットキー障壁高さの金属仕事関数依存性

廣木 正伸1、谷保 芳孝1、熊倉 一英1 (1.NTT物性研)

キーワード:AlN、ショットキー障壁高さ

n型AlNのショットキー障壁高さ(SBH)の金属仕事関数依存性を評価した。Ti, Ni, Pd, Ptをアノード電極とするn型AlNショットキーバリアダイオードを作製し、C-V測定からSBHを評価した。SBHは、金属仕事関数, Φ_mの増加に伴い増加し、SBH = q(1.1Φ_m - 2.26) という関係が得られた。金属/n型AlN界面ではフェルミレベルピニング の影響がほぼ無く、界面状態密度が小さいことを示唆している。