[16p-Z08-1~17] 3.8 光計測技術・機器

[16p-Z08-4] カラー偏光カメラによる瞬間三次元計測

〇前田 勇樹¹、柴田 秀平¹、ネーザン ヘーガン¹、大谷 幸利¹ (1.宇都宮大学)

キーワード：偏光、形状計測

投影系軸と撮影系軸が異なる多くのステレオ法は、オクリュージョンの問題により急な段差や深穴といったものは計測が困難であるため、投影系と撮影系の同軸の計測法が有効である。我々は、スナップショットでサンプルを測定するために、空間的に変化する偏光パターンと偏光カメラを用いた同軸光学系による三次元形状計測法を提案してきた。我々はカラー偏光カメラを使った新たな測定手法について報告する。