[16p-Z15-1~13] 6.6 Probe Microscopy

[16p-Z15-6] [The 5th Thin Film and Surface Physics Division Paper Award Speech] Development of laser-combined multiprobe technique and its applications for low dimensional semiconductors

〇Hiroyuki Mogi¹, Zihan Wang¹, Yuhei Takaguchi², Takahiko Endo², Yusuke Arashida¹, Shoji Yoshida¹, Atsushi Taninaka¹, Haruhiro Oigawa¹, Yasumitsu Miyata², Osamu Takeuchi¹, Hidemi Shigekawa¹ (1.Univ. of Tsukuba, 2.Tokyo Metro. Univ.)

Keywords:Multiprobe STM, ultra-fast measurement, photoresponse

遷移金属ダイカルコゲナイド系二次元半導体は、今後、単一分子層光電子デバイスへの応用が期待される。本講演では、発表者らが開発した光励起多探針計測システムを用いて、単層面内ヘテロ構造のバンド構造推定や光伝導応答ダイナミクスを計測した結果を紹介する。これにより、光励起下、かつ、複数の導電性AFMやSTM探針を用いて、ps~nsの超高速領域のキャリアダイナミクスまで評価可能となった。本手法は、さらに高度な単分子層光電子デバイスを開発する上でも強力な計測ツールとなることが期待される。