[16p-Z28-1~21] 2.2 検出器開発

[16p-Z28-11] CMOSイメージセンサーにおけるX線撮像分光性能の評価

〇(M2)鎌田 恭彰¹、平賀 純子¹、吉田 明弘¹、由比 大斗¹、中嶋 大² (1.関西学院大理工、2.関東学院大理工)

キーワード：CMOSイメージセンサー

我々は、可視光用CMOS イメージセンサを用いて、宇宙機搭載を念頭に、X線撮像分光検出器の開発を進めている。本研究では、Andor社製の表面照射型sCMOSイメージセンサZylaについて、常温真空環境下で、3つの密封線源による様々な特性X線を用いて撮像分光性能評価を行った。その結果、3keVから25keVにおける広帯域での撮像分光が可能でありエネルギーと波高値は高い直線性を示すことがわかった。