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[16p-Z28-14] X-ray detection using Cs2AgBiBr6 thick film prepared via mist deposition method
Keywords:perovskite, lead-free, Cs2AgBiBr6
Cs2AgBiBr6 は X 線撮像素子の検出母材として注目されているが、その実現に必要な大面積厚膜の作製技術が確立されていない。そこで我々は、大面積化が可能なミストデポジション法による Cs2AgBiBr6 膜の作製に取り組んできた。本手法では、特定の条件下で膜を構成する結晶が基板に垂直に成長した。このような柱状構造を持つ Cs2AgBiBr6 膜を膜厚 90 µm 以上に成長させ、X 線検出器に利用することで、従来の 2 倍以上である 487 μC Gyair–1 cm–2 の検出感度を実現した。