[16p-Z28-1~21] 2.2 Detection systems

[16p-Z28-14] X-ray detection using Cs₂AgBiBr₆ thick film prepared via mist deposition method

〇Shinji Wada¹, Yuki Haruta¹, Takumi Ikenoue¹, Masao Miyake¹, Tetsuji Hirato¹ (1.Kyoto Univ.)

Keywords:perovskite, lead-free, Cs2AgBiBr6

Cs₂AgBiBr₆ は X 線撮像素子の検出母材として注目されているが、その実現に必要な大面積厚膜の作製技術が確立されていない。そこで我々は、大面積化が可能なミストデポジション法による Cs₂AgBiBr₆ 膜の作製に取り組んできた。本手法では、特定の条件下で膜を構成する結晶が基板に垂直に成長した。このような柱状構造を持つ Cs₂AgBiBr₆ 膜を膜厚 90 µm 以上に成長させ、X 線検出器に利用することで、従来の 2 倍以上である 487 μC Gy_air^–1 cm^–2 の検出感度を実現した。