[17a-P06-1~5] 12.6 Nanobiotechnology

[17a-P06-5] Machine-learning-based noise-processing technique in scanning probe microscopy

〇Yoshiya Tatsuda¹, Shinji Watanabe² (1.Kanazawa Univ., 2.WPI-NanoLSI, Kanazawa Univ.)

Keywords:machine learning, scanning probe microscopy

ノイズに埋もれる微小信号の検出手段の開発は、計測分野における普遍的な課題である。我々は、高速走査型プローブ顕微鏡の性能向上を目的として、リアルタイムの計測情報とそのフィードバック制御が要求されるシステムにおける新しい微小信号検出技術の開発を、機械学習の手法を基盤に推進している。本研究では、走査型イオン伝導顕微鏡(SICM)における信号検出の改善の取組を報告する。