[17a-P08-1~5] 6.6 Probe Microscopy

[17a-P08-4] Force Analysis of Vapor Deposition Ice Near Melting Point Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy

Katsuki Otani¹, Yuji Miyato¹, Ken Nagashima², Daiki Katsube^1,3, Hayato Yamashita¹, 〇Masayuki Abe¹ (1.Osaka Univ., 2.Hokkaido Univ., 3.Nagaoka Univ. Technol.)

Keywords:frequency modulation atomic force microscopy, Ice

我々のグループで開発した、温度・湿度・ 気圧の複合環境を精度よく制御可能な周波数変調方式原子間力顕微鏡(FM-AFM)を用いて、氷点下 近傍における氷結晶表面における表面ナノ構造の観察し、温度および過飽和度変化させることでフォーススペクトロスコピーを行った。