[17a-Z11-1~12] 2.3 Application, radiation generators, new technology

△ [17a-Z11-2] Development of Bragg reflection-type X-ray polarimeter based on a bent silicon crystal using high-temperature plastic deformation technology

〇Yoko Ueda¹, Daiki Ishi¹, Tomoki Uchino¹, Yuichiro Ezoe¹, Kumi Ishikawa¹, Aoto Fukushima¹, Hikaru Suzuki¹, Tatsuya Yuasa¹, Sae Sakuda¹, Ayata Inagaki¹, Haruyuki Hiromoto¹, Masaki Numazawa², Kazuhisa Mitsuda³, Kohei Morishita⁴, Kazuo Nakajima⁵ (1.Tokyo Metropolitan Univ., 2.RIKEN, 3.NAOJ, 4.Kyushu Univ., 5.Tohoku Univ.)

Keywords:X-ray polarimeter, high-temperature plastic deformation

宇宙 X線観測において、空間分布、スペクトル、時間変動に加え、第四のパラメータである偏光観測が発展している。X線偏光の最も簡単な測定方式はブラッグ反射の利用であり、これは最初の宇宙 X線偏光観測でも用いられた。我々は、湾曲 Si 基板を用いた手法を開発している。日本発祥の技術である高温塑性変形を用いて Si 結晶面をずらし、基板を湾曲させることで、ブラッグ反射の課題であるエネルギー帯域の拡大と集光を狙う。我々は、高温塑性変形技術で製作した湾曲 Si 基板で Fe Kα 6.4 keV X線の偏光測定が可能であることを実証した。