[17a-Z23-1~11] 12.2 評価・基礎物性

△ [17a-Z23-6] 時間分解光電子顕微鏡を用いた4CzIPN単一膜のTADF過程における光励起電子ダイナミクスの直接計測

〇深見 優介¹、岩澤 柾人¹、細貝 拓也²、中野谷 一³、福本 恵紀⁴、山田 洋一¹ (1.筑波大数物、2.産総研、3.九州大学、4.KEK)

キーワード：熱活性化遅延蛍光、時間分解光電子顕微鏡、励起電子ダイナミクス

熱活性化遅延蛍光(TADF)分子の単一膜を用いた高効率OLEDが報告されたため、TADF単一膜の基礎物性の解明が求められている。本研究ではTADF単一膜での励起子解離を含む光物理過程を解明することを目的に、時間分解光電子顕微鏡により4CzIPN単一膜での光励起電子ダイナミクスを計測した。その結果、TR-PL計測で観察された瞬時蛍光と遅延蛍光に対応する励起子消失過程を追跡できた。さらには、励起子の解離する割合を約8%と見積もることができた。