[17p-P08-1~8] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[17p-P08-4] 密度ベースクラスタリングを用いた2次元X線回折測定の高速化

〇(D)山下 晶洸^1,2、長田 貴弘²、柳生 進二郎²、朝日 透¹、知京 豊裕² (1.早大先、2.物材機構)

キーワード：X線回折、密度ベースクラスタリング、DBSCAN