[17p-P08-1~8] 23.1 合同セッションN「インフォマティクス応用」

[17p-P08-5] TEM像のパーシステントホモロジーによるアモルファス状態識別

〇上杉 文彦¹、石井 真史¹ (1.物材機構)

キーワード：アモルファス、TEM、パーシステントホモロジー

シミュレーションによって得られたGaNの液体とアモルファス状態の透過型電子顕微鏡（TEM）像をパーシステントダイアグラム（PD）化し，それらに対し機械学習による二値判別を行った．その結果，各PDのサポートベクトルマシンによる判別精度は，80%を越えることが分かった．二次元写像にPDが適用できる条件の数学的な検討は必要であるが，実用を重視した適用例をトライアル的な第一報として本講演で報告する．