The 68th JSAP Spring Meeting 2021

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Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.2 Applications and technologies of electron beams

[17p-Z16-1~8] 7.2 Applications and technologies of electron beams

Wed. Mar 17, 2021 1:30 PM - 3:30 PM Z16 (Z16)

Takashi Kawakubo(Natl. Inst. of Tech., Kagawa College), Takafumi Ishida(Nagoya University)

2:45 PM - 3:00 PM

[17p-Z16-6] Removing Influence of Noise in Quantitative-Density Electron Tomography

〇(M2)Kaito Teruya1, Jun Yamasaki2,3 (1.Grad. School of Eng., Osaka Univ., 2.RC-UHVEM, Osaka Univ., 3.IMaSS, Nagoya Univ.)

Keywords:electron tomography

TEMトモグラフィーの透過率非線型問題の解決の糸口として、我々は3パラメータのみを含む関数で非線型減衰曲線を精度よく再現できることを発見した。このパラメータの決定方法として、再構成画像の微分総和値を評価値とするイタレーション手法を我々は提案しているが、電顕像ノイズの影響を大きく受けてしまうことが判明している。本研究ではこのノイズの影響を回避すべく、パラメータ推定手法の改良を試みた。