[18a-P01-1~9] 3.8 光計測技術・機器

[18a-P01-9] 二重回転素子偏光計測法のキャリブレーション法

〇(PC)柴田 秀平¹、川畑 州一²、大谷 幸利¹ (1.宇都宮大、2.東京工芸大)

キーワード：偏光計測

二重回転ストークス偏光計は位相差板と偏光板を異なる回転比率で回転させ，フーリエ変換により入射光の偏光状態を定量的に表すストークス・パラメータを測定できる．この手法の最も有効な点は位相差板の波長分散をキャリブレーションできるため任意の光源が使用できる点である．この二重回転法をより簡易的および高精度計測するために，位相差板，偏光板のアライメントが不必要な手法を提案する．