[18a-Z23-1~11] 12.2 評価・基礎物性

[18a-Z23-1] 一定終状態光電子収量分光法の有機薄膜への適用

〇渡邊 研太¹、木全 俊輔¹、田中 有弥^1,2、石井 久夫^1,2,3 (1.千葉大融合理工、2.千葉大先進、3.千葉大MCRC)

キーワード：光電子分光、光電子収量分光

半導体の特性は、HOMOやLUMOだけでなく、バンドギャップ内の微小な準位にも依存するため、素子特性を改善する上でギャップ内を含めた電子の状態分布を知ることが重要となる。無機半導体の解析に用いられてきた一定終状態光電子収量分光(CFS-YS)を有機薄膜へ適用し，HS-UPSの結果と比較することで，HOMO準位から微弱ギャップ準位までの計測法としての適用性，測定条件の最適化などを検討した。