The 68th JSAP Spring Meeting 2021

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Oral presentation

8 Plasma Electronics » 8.1 Plasma production and diagnostics

[18p-Z17-1~20] 8.1 Plasma production and diagnostics

Thu. Mar 18, 2021 1:30 PM - 7:00 PM Z17 (Z17)

Hiroshi Akatsuka(Tokyo Tech), Kentaro Tomita(Hokkaido Univ.), Manabu Tanaka(Kyushu Univ.)

2:15 PM - 2:30 PM

[18p-Z17-4] Velocity-field measurements of EUV source plasmas using Thomson scattering

Kentarou Tomita1, Yiming Pan2, Kiichiro Uchino2 (1.Hokkaido Univ., 2.Kyushu Univ.)

Keywords:Thomson scattaring, EUV light source, velocity field measurements

多価電離プラズマ応用の一つとして、波長13.5 nm(極端紫外、EUV)を用いた半導体リソグラフィー光源(EUV光源)があり、光源生成はSn液滴をターゲットとしたレーザー生成プラズマ(LPP)方式が採用されている。デブリを抑制するために初期のSn原子数は抑制しつつ、半導体光源として許容されるエタンデュ内に、長時間プラズマが供給されるためには、ドーム状のSnターゲットのどの位置のスズ原子がプラズマ化され、どのような速度でどの方向に流れているかを知る必要がある。我々が観測している協同トムソン散乱イオン項スペクトルには、観測方向に関連したドップラーシフトとして、プラズマの流れ情報が含まれている。プラズマの軸対象性を仮定することで、2次元的なプラズマ流れの決定を試みた。講演ではその詳細について報告する。