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[18p-Z29-7] Siヘテロ接合太陽電池モジュールの電圧誘起劣化への事前アニーリングの影響
キーワード:シリコンヘテロ接合太陽電池、電圧誘起劣化
Siヘテロ接合太陽電池モジュールのPIDに対する、事前アニーリングの影響を調査した。事前アニーリングなしモジュールは、PID試験時間にともにJscが低下するが、110 °Cで事前アニーリングのは劣化されなかった。一方、85 °Cで事前アニーリングを行ったモジュールでは、事前アニーリングなしのモジュールと同様なJscの低下が見られた。これらの結果は、高温での事前アニーリングがモジュール内の水分を除去し、PIDが抑止されることを示唆する。