[18p-Z29-1~9] 16.3 シリコン系太陽電池

[18p-Z29-8] n型フロントエミッタ型結晶Si太陽電池モジュールの電圧誘起劣化試験時のリーク電流の変化

〇趙 蓉蓉¹、増田 淳²、大平 圭介¹ (1.北陸先端大、2.新潟大)

キーワード：電圧誘起劣化、レーク電流

n型フロントエミッタ型結晶Si太陽電池モジュールの暗状態および光照射下でのPID試験時のリーク電流の変化を調査した。リーク電流は、第一劣化時には増加し、第二劣化時には減少する傾向を示した。これは窒化Si膜中のKセンターからの電子放出と関係があると考えられる。暗状態と光照射下でのリーク電流を比べると、第一劣化時には暗状態の方が、第二劣化時には光照射の方が小さく、リーク電流の挙動がPIDの挙動に対応している傾向を確認した。