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[19a-Z32-6] 全反射高速陽電子回折(TRHEPD)における計測インフォマティクスと高速計算技術の融合
キーワード:感度解析、スーパーコンピュータ、全反射高速陽電子回折
計測インフォマティクスと高速計算技術を融合し,不確かさを陽に計算する逆問題解析として,汎用実験データ解析手法を開発した.最適化過程と感度解析からなる.後者はスーパーコンピュータを用いて最適点近傍の緻密計算を行うことで,適切な変数セット選択を可能とする.上記手法の有用性を,2次元物質の新しい非破壊構造解析法であるKEKにおける全反射高速陽電子回折(TRHEPD)実験で,確認した.