2021年第68回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

[19p-Z25-1~14] 13.7 化合物及びパワー電子デバイス・プロセス技術

2021年3月19日(金) 13:00 〜 16:45 Z25 (Z25)

加藤 正史(名工大)

16:30 〜 16:45

[19p-Z25-14] 2608 V Operation of NO2-Doped p-channel Diamond MOSFETs

Niloy Chandra Saha1、SeongWoo Kim2、Toshiyuki Oishi1、Yuki Kawamata2、Koji Koyama2、Makoto Kasu1 (1.Saga Univ.、2.Adamant Namiki Precision Jewel Co., Ltd.)

キーワード:heteroepitaxial diamond, High breakdown voltage, NO2 doping

Diamond possesses a very high breakdown field of more than10 MV/cm and thermal conductivity of 22 W/cm·K. We demonstrated NO2-doped p-channel diamond MOSFETs with both high current and voltage operation that leads to an available output power density of 145 MW/cm2. In this work, by using a passivation layer, we demonstrate NO2-doped p-channel diamond MOSFETs with a greatly increased breakdown voltage (2608 V). The lateral breakdown field of the MOSFETs increased from 1.2 to 2.37 MV/cm.