09:00 〜 09:15 △ [21a-C306-1] 超高感度走査透過電子顕微鏡法OBF STEMの開発による電子線敏感材料の原子構造直接観察 〇大江 耕介1,2、関 岳人2,3、吉田 要1、河野 祐二4、幾原 雄一1,2、柴田 直哉1,2 (1.JFCC、2.東大、3.JSTさきがけ、4.日本電子)