09:45 〜 10:00 △ [20a-C306-4] 4H-SiC中シリコン空孔を用いた室温下での電気的核スピン検出 〇(D)西川 哲理1、森岡 直也1,2、阿部 浩之3、森下 弘樹1,2、大島 武3、水落 憲和1,2 (1.京大化研、2.CSRN、3.量研)