09:30 〜 11:30 [23a-P06-28] IGZOおよびGTO-ReRAMにおけるフォーミング時の特性変化測定 〇宮戸 祐治1、廣瀬 尊之1、片桐 徹也1、三上 創太1、小林 圭2、木村 睦1 (1.龍谷大先端理工、2.京大院工)