[20a-M206-1~10] FS.1 Focused Session "AI Electronics"

△ [20a-M206-6] Edge Retraining of FeFET CiM for Device Reliability Error Compensation

〇Shinsei Yoshikiyo¹, Naoko Misawa¹, Kasidit Toprasertpong¹, Shinichi Takagi¹, Chihiro Matsui¹, Ken Takeuchi¹ (1.Univ. Tokyo)

Keywords:Computation-in-Memory, FeFET, error compensation

本研究では、強誘電体FET (FeFET)を使用したComputation-in-Memory (CiM)でのFeFETのデバイスエラーのニューラルネットワークに対する影響を低減する再学習手法を提案する。提案手法では、エッジデバイス上でニューラルネットワークを部分的に再学習する。書き込み誤差、リードディスターブ、リテンションの3種類のエラーを測定データを元にモデル化し、提案手法を評価したところ、全てのエラーに対して、劣化した推論精度の50%以上を回復できることが確認された。