[20a-M206-1~10] FS.1 フォーカストセッション「AIエレクトロニクス」

△ [20a-M206-6] デバイスエラーを補償するエッジFeFET CiMの再学習

〇吉清 秦生¹、三澤 奈央子¹、トープラサートポン カシディット¹、高木 信一¹、松井 千尋¹、竹内 健¹ (1.東大工)

キーワード：メモリ内計算、強誘電体FET、エラー補償

本研究では、強誘電体FET (FeFET)を使用したComputation-in-Memory (CiM)でのFeFETのデバイスエラーのニューラルネットワークに対する影響を低減する再学習手法を提案する。提案手法では、エッジデバイス上でニューラルネットワークを部分的に再学習する。書き込み誤差、リードディスターブ、リテンションの3種類のエラーを測定データを元にモデル化し、提案手法を評価したところ、全てのエラーに対して、劣化した推論精度の50%以上を回復できることが確認された。