[20a-M206-1~10] FS.1 Focused Session "AI Electronics"

[20a-M206-9] Bit error evaluation on non-volatile main memory system with probability distribution of the write-error rate

〇Hiroko Arai¹, Daiki Saito², Yukinori Sato², Takahiro Hirofuchi³, Hiroshi Imamura¹ (1.AIST RCECT, 2.Toyohashi Univ. Tech., 3.AIST DigiARC)

Keywords:Non-volatile memory, Write error rate, Main memory simulation

書き込みエラー率(WER)の高いメモリ素子を許容したメモリシステム実現にむけて、アプリケーション動作時におけるエラーの影響を調べるため、WER分布を考慮したメモリシステムレベルシミュレーションによりメモリアクセスおよびビット化け発生回数について調べた