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△ [20p-A105-4] 高調波プローブ法を用いたプラズマ曝露環境下の材料表面状態モニタリング
キーワード:プラズマ・材料表面、プローブ法、インピーダンス分光法
プローブ法は低温プラズマ中の電子プラズマパラメータ(ne, Te)の計測に広く使われてきた.しかし,反応性プラズマの計測においてはプローブ表面に抵抗体や絶縁体が形成され,電流電圧特性がその表面状態に大きく影響される.正確なプローブ計測のためには反応性プラズマ中のプローブ表面状態を知る必要がある.本研究は高調波プローブ(FHP)法を応用し,反応性プラズマ中で経時的に変化するプローブ表面状態を捉えた.