2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

8 プラズマエレクトロニクス » 8.1 プラズマ生成・診断

[20p-A105-1~11] 8.1 プラズマ生成・診断

2022年9月20日(火) 14:00 〜 17:00 A105 (A105)

小川 大輔(中部大)、富田 健太郎(北大)

14:45 〜 15:00

[20p-A105-4] 高調波プローブ法を用いたプラズマ曝露環境下の材料表面状態モニタリング

両角 潤樹1、江利口 浩二1、占部 継一郎1 (1.京大院工)

キーワード:プラズマ・材料表面、プローブ法、インピーダンス分光法

プローブ法は低温プラズマ中の電子プラズマパラメータ(ne, Te)の計測に広く使われてきた.しかし,反応性プラズマの計測においてはプローブ表面に抵抗体や絶縁体が形成され,電流電圧特性がその表面状態に大きく影響される.正確なプローブ計測のためには反応性プラズマ中のプローブ表面状態を知る必要がある.本研究は高調波プローブ(FHP)法を応用し,反応性プラズマ中で経時的に変化するプローブ表面状態を捉えた.