[20p-A304-1~15] 9.1 誘電材料・誘電体

△ [20p-A304-2] コヒーレントX線回折による数100 nm級強誘電体一粒子の内部歪観察

〇押目 典宏¹、大和田 謙二¹、町田 晃彦¹、福島 凪世²、上野 慎太郎³、藤井 一郎³、和田 智志³、菅原 健人¹、島田 歩¹、上野 哲朗¹、綿貫 徹¹、石井 賢司¹、豊川 秀訓^1,4、門馬 綱一⁵、Kim Sangwook²、塚田 真也⁶、黒岩 芳弘² (1.量研、2.広大院先進理工、3.山梨大院工、4.JASRI、5.科博、6.島根大教育)

キーワード：イメージング、コヒーレントX線回折、微粒子

BraggコヒーレントX線回折イメージング(Bragg-CDI)は放射光X線の空間コヒーレンスを利用した、孤立一粒子のサイズ、形状、内部歪を観察可能なイメージング技術である。
Bragg-CDIは、透過型電子顕微鏡では非破壊観察が困難な40 nm程度から500 nm程度までの結晶粒子に適用可能であり、一粒子の内部構造を可視化する。
今回我々は、誘電体微粒子を中心にBragg-CDI適用し内部歪を可視化した例をいくつか紹介する。