2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

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[20p-C102-1~16] 9.5 新機能材料・新物性

2022年9月20日(火) 13:30 〜 17:45 C102 (C102)

高瀬 浩一(日大)、福村 知昭(東北大)

17:30 〜 17:45

[20p-C102-16] イオン液体ゲート(ILG)を用いたYBa2Cu3O7-x薄膜へのフッ素挿入

寺田 凌1、難波 杜人1、村山 寛太郎1、高津 浩1、寺嶋 孝仁2、陰山 洋1 (1.京大工、2.京大理)

キーワード:複合アニオン、薄膜

我々は最近、イオン液体ゲート(ILG)を用いた薄膜への酸化的なフッ素挿入に成功した。従来薄膜材料へのフッ素挿入は、PVDFやPTFEを用いた還元的手法、またはF2ガスやXeF2を用いた酸化的手法によって行われてきた。この手法は、それに対して、酸素脱離をともなわない酸化的手法かつ簡便な方法である。本研究では、この手法を用いて、YBa2Cu3O7-x薄膜へのフッ素挿入を行った。