[21p-P14-1~16] 2 放射線(ポスター)

[21p-P14-4] キャリア注入がCdTe半導体検出器のスペクトルに与える影響

〇齋藤 寛希¹、西井 健介¹、青木 徹^1,2、伊藤 哲^1,2 (1.静岡大院、2.静大電研)

キーワード：半導体検出器、CdTe

CdTe放射線検出器は高いエネルギー分解能，検出効率、室温でも動作可能という利点を持つが，より高いエネルギー分解能を持つショットキー型では長時間連続利用で性能が劣化するポラリゼーションという現象が起こるという課題がある.本研究では放射線を模擬したレーザーパルスを30分間CdTe検出器に照射した後，エネルギースペクトルを測定することでキャリア注入が検出器にどのような影響を与えるか考察する.