[21p-P16-1~15] 6.4 薄膜新材料

[21p-P16-1] Mn₃Cu_xSn_1-xN薄膜の作製と¹¹⁹Snメスバウアー分光法による磁性評価

〇(M1)貞島 幹大¹、竹原 玄貴¹、大谷 千花¹、田中 雅章¹、壬生 攻¹ (1.名工大工)

キーワード：119Snメスバウアー分光法、負の熱膨張、逆ペロブスカイト型

本研究では、緩やかな負の熱膨張を示すMn₃Cu_xSn_1-xN薄膜の作製及び物性の評価を行った。磁性評価の結果から、薄膜化により内部磁場が増加していることがわかった。この原因として、製膜時の組成変化、または薄膜化による面内歪みに起因するSn原子周りの電子状態の変化が考えられる。発表では、他の組成xについてのメスバウアースペクトルを示し、薄膜化による磁性変化について報告する予定である。