[21p-P17-1~18] 12.2 評価・基礎物性

[21p-P17-1] ケルビンプローブフォース顕微鏡によるπ共役系高分子／フラーレン界面の電子物性評価

〇田渊 大地¹、正能 拓馬¹、藤井 彰彦¹、尾﨑 雅則¹ (1.阪大院工)

キーワード：ケルビンプローブフォース顕微鏡、有機ドナー/アクセプター界面

有機ヘテロ界面における電子物性の解明を目的とし，溶液プロセスで製膜した三種類のπ共役系高分子とフラーレンとの界面について，ケルビンプローブフォース顕微鏡観察を行った．表面電位像から材料の違いによる薄膜面内方向の明確な電位変化を明らかにした．また，特定の材料で界面近傍において新たな準位の形成がみられた．